高品质探针 先进材料结构 精益镀层处理 优质组装工艺
全国热线0512-6607 4325
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用途:
- 监测压力位移曲线
- 小径瑕疵瑕疵区域面积总和 <0.1m㎡
- 轮廓度检测
特点:
- 应用于小径产品检测
- 自动对位、视觉引导
- 平面度精度:±5um
尺寸:1500mm*1500mm*1800mm
行业:半导体